隨著微波技術的迅猛發展（zhǎn），對微波介質材料提出了新的要求，對（duì）介質材料（liào）的各種性（xìng）能的測量有了更多（duō）的需求，複介電常數是介質（zhì）的（de）一個主要（yào）參數，本文就微波介質複介（jiè）電常數測量的帶狀線法進行了一個簡單的介（jiè）紹（shào），並重點就基於VC++ 所編製的自動測量程序做了相關的論述。自動（dòng）化測量可以大大提高我（wǒ）們的工作效率。
近年來（lái），微波技術發（fā）展很快，微波技術向小型化，集成化方向發（fā）展，這樣就對微（wēi）波介質材料提出了新的要求。複介電常數是表征介質微波性質的基本參數。人們針對介質複介電常數的測量已經做了很多工作，針對介質（zhì）材料的表觀采取了不同的測（cè）試方法，每一種測試方法都有其優缺點和適用範（fàn）圍。本文主要介紹可以（yǐ）測（cè）得寬頻帶（dài）下微波複介電常數的帶（dài）狀線法及基於VC++ 編寫的介質微波（bō）複介電（diàn）常數自動測量係統。
1、介質（zhì）複介電常數
複介電常數
2、帶狀（zhuàng）線法測試原理
2.1、測試原（yuán）理（lǐ）
上圖為帶狀線示意圖，待測介質片以及金屬導帶外加金屬（shǔ）接地板構成帶狀線傳輸線。兩端開路可形成諧振，諧（xié）振頻率f0與介質（zhì）材料的介電常數ε′有關，固有品質因數Q0 和介質損耗角正切tand 有關係。帶狀線法測介質複介電常數可等效為測量帶狀（zhuàng）線諧振係統的諧振頻率f0 和固有品質因數Q0。
2.2、測試係統
如右圖所示為測試係統框圖，用矢量網絡分（fèn）析儀（yí）測量介質材料的複介電常（cháng）數可以很直觀並且很快速的得到測量結果，適合於掃頻測量。
2.3、測試過程
1)矢網開機（jī）預熱30 分鍾，必要的時候要重新進行校準（zhǔn）。
2)按照要求將測試係統與矢網連（lián）接（jiē）起來，給帶（dài）狀線加適當的壓力以使介質片之間的空氣隙盡量的小。
3)調節耦合機構以得到合適的耦合量。
4)找到一個我們要測量的謝振峰，將中心頻率設（shè）為此謝（xiè）振峰諧振頻率，調（diào）節span 使此峰完全放在屏（píng）幕上，並且能夠找到它的3db 帶寬。
5)記錄（lù）下諧振頻率f0，3db 帶（dài）寬Δf。
6)重複5)步驟測得我們需要的謝振峰的信息。
3、矢網編程
我們這裏采用Agilent IO Libraries 中所提供的SICL 接口，這個接口是Agilent 為多（duō）種係統儀（yí）器所開發的便捷式IO 庫。編程語言（yán）我們選擇最為廣泛使用的C++，開發（fā）平台選擇微軟公司所推出（chū）的VC++，並采用微軟自己開發的MFC 封裝類庫，以便我們能夠快速的開發和將精力集中在程序測（cè）量模塊的設計。
